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美國泰克參數分析儀Keithley 4200A-SCS產品詳細信息

美國泰克參數分析儀Keithley 4200A-SCS概述

4200A-SCS 是一種可以量身定制、集成的參數分析儀，可以同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性。作為性能樶高的參數分析儀， 4200A-SCS 加快了半導體、材料和工藝開發速度。

4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的軟件提供了清楚的、不折不 扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業知識和數百項隨時 可以投入使用的應用測試，Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究過程，快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配 置，不管是現在還是未來，都可以隨時對系統進行升級。通過 4200A-SCS 參數分析儀，通往發現之路現在變得異常簡便。

參數查看，快速清晰。

大膽發現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

特點

內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

用戶可配置低電流功能

個性化輸出通道名稱

查看實時測試狀態

檢定、 自定義、 樶大化。

簡單地說，4200A-SCS 可以完全自定義且全部升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。

特點

NBTI/PBTI 測試

隨機電報噪聲

非易失內存設備

穩壓器應用測試

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

“點擊”測試定序

“手動”探測器模式測試探測器功能

假探測器模式無需移除命令即可實現調試

降低成本并保護您的投資

吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務，在此過程中，無需報價或填寫采購單，也不會有審批延誤。

美國泰克參數分析儀Keithley 4200A-SCS特點

I-V 源測量單元(SMU)
★ ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
★ 100 fA測量分辨率
★ 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
★ 10 mHz – 10 Hz 超低頻率電容測量
★ 四象限操作
★ 2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元(CVU)
★ AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
★ 1 kHz – 10 MHz 頻率范圍
★ ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
★ 選配 CVIV 多通道開關，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
★ 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
★ 200 MSa/s，5 ns 采樣率
★ ±40 V (80 V p-p)，±800 mA
★ 瞬態波形捕獲模式
★ 任意波形發生器 Segment ARB® 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率

高壓脈沖發生器單元(PGU)
★ 兩個高速脈沖電壓源通道
★ ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
★ 任意波形發生器 Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
★ 在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針
★ 把 C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
★ 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
★ 把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
★ 降低電纜電容效應

美國泰克參數分析儀Keithley 4200A-SCS選型指南